欢迎光临

我们一直在努力

通过显微镜观察和X-射线衍射分析方法,研究用热爆裂法除去二氧化硅微粉中杂质的过程。

日期: 来源:雅诚德英语网

The process of impurity removing from fine silica powders with thermal crack method is investigated by means of DTA and XRD.

通过显微镜观察和X -射线衍射分析方法,研究用热爆裂法除去二氧化硅微粉中杂质的过程。

句子推荐